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EMI测试
近场探头 EM5030
EM5030 是一款主要用于查找干扰源，判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度；检测磁场耦合的通道，从而调整连接器位置；检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰，寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的，通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。通过配合本公司的EM5020前置放大器可以提高系统测试灵敏度。大大的减少产品的研发周期，减少往返实验室的时间和金钱，减少不必要的错误测试。 EM5030近场探头就是解决问题的最好利器！
型号 | 说明 | 特性 |
EM5030－1
| 磁场近场探头，可检查10cm范围内的磁场。
主要用于机箱泄漏测试。
频率范围：30MHz to 3 GHz
分辨率：25mm左右 | 
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EM5030－2
| 磁场近场探头，可检查3cm范围内的磁场。
频率范围：30MHz to 3 GHz
分辨率：10mm左右 | 
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EM5030－3
| 磁场近场探头，主要用于线缆电磁泄漏测试。
频率范围：30MHz to 2 GHz
分辨率：5mm左右 | 
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EM5030－4
| 磁场近场探头，可检测垂直方向发射的电磁场 。
主要用于PCB布线产生的电磁场测试。
频率范围：30MHz to 3 GHz
分辨率：2mm左右 | 
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